M-LAB立式 X 射线衍射仪是基于布拉格衍射定律研发的多晶衍射分析系统 ，搭载 θ-θ 立式垂直扫描测角仪与双可选探测器 ， 可快速完成物相定性 / 定量 、 晶胞参数 、结晶度 、应力等分析 ，广泛服务于材料 、化学 、地质 、 医药 、环境等领域。

仪器特点

● 超高精度测角系统  : θ-θ 立式结构 ，最小步进角0 .0001° ,   位置重现性≤0 .0005° ,   数据精准可靠。

● 双探测器灵活选配  : NaI 闪烁计数器 ：低噪≤1c ps ，线性 500kc ps ，常规分析高性价比288×288 半导体阵列： 单点计数率 2 . 6×10⁶ /s ，快速二维采集。

●  高稳定 X 射线源   : 2 . 6kW 大功率 ，40kV/40mA 可24 小时连续工作 ，整机稳定度≤0 . 5%。

●  全流程安全防护   : 辐射剂量0 . 3μSv / 小时 ， 防护门联锁 、光闸自动控制 ，合规更安心。

● 丰富扩展能力    : 支持自动进样器 、三轴 / 五轴样品台 、薄膜 / 纤维附件 、多靶材 X 射线管。

应用领域

●  材料科学：晶体结构、相组成、晶粒尺寸、新材料研发

●  地质勘探：矿物鉴定、岩石成分定量分析

●  生物医药：药物晶型、生物大分子结构解析

●  工业质控：陶瓷 / 金属 / 催化剂质量检测、工艺优化

●  环境与法医：污染物溯源、微量物证鉴定

X射线源Cu靶，2.6kW管电压:15-50kV(步长1kV)管电流:2-40mA(步长1mA)24小时连续工作

发生器功率2kW

测角仪θ-θ立式垂直扫描半径:180mm20范围:-110°~161°最小步进角:0.0001*位置重现性:≤0.0005°

扫描速度:1/8°~16°/min

探测器Nal闪烁计数器(标配)线性计数率500kcps本底噪声:≤1cps:288x288半导体阵列探测器(选配)

有效面积:20x20mm单点计数率:26x10?cps像素尺寸:70x70um

控制软件θ/2θ校读、步进扫描、计数率显⽰等

综合稳定度≤0.5%

辐射泄漏≤0.3uSv/h(扣除天然本底)

安全防护设备门连锁、光闸自动控制、散射线屏蔽

标配附件发散/接收/防散射/索拉狭缝(2套)Ni滤片(Cu靶)石墨单色器(与闪烁计数器专配)

可选附件10位自动进样器玻璃体/陶瓷X射线管(Fe、Co、Mn等)三轴/五轴样品台GID平行光薄膜附件纤维附件