荧光光谱仪
滨松 绝对量子效率测量系统 Quantaurus-QY
仪器简介
Quantaurus-QY是一款紧凑而易用的仪器,用于测量光致发光材料的量子效率。它能胜任绝对量子效率的测量,而且无需传统相关方法所必需的已知参考标准。不同形式的样品,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液氮能将液体样品冷却到-196摄氏度(77 K)。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 型号:Quantaurus-QY
- 产地:日本
- 价格:面议
绝对量子效率测量系统
仪器简介
绝对量子效率测量系统采用了光致发光法(photoluminescence)来快速而准确地测定绝对量子效率。该系统装置包括一个激发电源、一个单色仪、一个氮气流积分球和一个同步探测整个谱域的CCD光谱仪。专用软件易于操作。两种样品夹持器能用于薄膜、粉末,比色皿能用于液体样品。这使得C9920-02系统能用于多种领域,包括工业、生物和学术研究等。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 型号:
- 产地:日本
- 价格:面议
滨松 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪
仪器简介
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132-11是专门为测量近红外波段(580—1400 nm)光致发光谱(PL Spectrum)和光致发光寿命(PL Life)而设计的。主体单元也包括了一个YAG激光器。 PV材料的参数同转换效率和开路电压有着密切关系。因此这些参数在材料开发和质量控制上都是非常重要的。光致发光寿命测量尤其重要,因为它能表征用光致发光谱不能分辨的转换效率间的差异。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 产地:日本
- 价格:面议
滨松 绝对量子效率测量系统Quantaurus-QY Plus
仪器简介
Quantaurus-QY Plus 用于评价发光材料性能,测 试光致发光绝对量子产率的测试仪器。
其内部模块化的探测器组件可根据用户需要任意配 置,覆盖紫外-近红外的范围,具有高灵敏度的背照 式CCD探测器,从而有效解决上转换荧光量子产率 的难以测试的问题。
其内部模块化的探测器组件可根据用户需要任意配 置,覆盖紫外-近红外的范围,具有高灵敏度的背照 式CCD探测器,从而有效解决上转换荧光量子产率 的难以测试的问题。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 型号:Quantaurus-QY Plus
- 产地:日本
- 价格:面议
滨松 紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau
仪器简介
紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮冷却至-196摄氏度(-77K)。
操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮冷却至-196摄氏度(-77K)。
操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 型号:Quantaurus-Tau
- 产地:日本
- 价格:面议
滨松 皮秒荧光寿命测量系统
仪器简介
采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率(5 ps)荧光寿命测量系统。
滨松皮秒荧光寿命测量系统是为满足研究这类材料的研究者们的需求而开发的。具有皮秒时间响应的光学瞬态记录仪“条纹眼(streak scope)”的应用,使得超快时间分辨型分光光度法成为现实。条纹相机技术的应用是探测灵敏度达到光子计数水平。对于同步波长和时间测量,可将光谱仪添加到系统中。波长和时间设置等测量参数可以由电脑控制以简化实验室操作。
滨松皮秒荧光寿命测量系统是为满足研究这类材料的研究者们的需求而开发的。具有皮秒时间响应的光学瞬态记录仪“条纹眼(streak scope)”的应用,使得超快时间分辨型分光光度法成为现实。条纹相机技术的应用是探测灵敏度达到光子计数水平。对于同步波长和时间测量,可将光谱仪添加到系统中。波长和时间设置等测量参数可以由电脑控制以简化实验室操作。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 型号:
- 产地:日本
- 价格:面议
滨松近红外荧光寿命测量系统
仪器简介
近红外荧光寿命测量系统具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外(650—1700 nm)荧光寿命测量系统。
近红外荧光寿命测量系统型能在传统探测器困难的近红外波段实现亚纳秒的时间分辨率的荧光寿命测量。由于标准结构可以测量荧光谱,光谱被校正后就可能进行荧光寿命的测量。
近红外荧光寿命测量系统型能在传统探测器困难的近红外波段实现亚纳秒的时间分辨率的荧光寿命测量。由于标准结构可以测量荧光谱,光谱被校正后就可能进行荧光寿命的测量。
产品属性
- 品牌:滨松(HAMAMATSU)
- 产地:日本
- 价格:面议