仪器简介

XRD的全称是X-Ray Diffraction，即X射线衍射。这是一种通过对粉末、单晶或多晶体等块体检测材料等样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息，是目前研究物质的物相和晶体结构最有力的方法。

台式多晶X射线衍射仪是探测晶体材料物质结构的分析仪器，可以对晶体材料物质进行包括定性定量功能在内的多种分析应用，是材料分析领域重要技术手段。台式多晶X射线衍射仪在自然科学和技术科学中的应用范围遍及广泛领域，在诸多以材料科学为基础的众多学科、工业行业中都有重要的应用，是理工科院校和涉及材料研究、生产工艺部门、厂矿实验室的重要不可或缺的大型分析仪器设备。本产品利用X射线照射晶体物质产生X射线衍射的原理，采用准聚焦设计光路来实现对被照射样品的衍射帧收集，进而转化成标准衍射图谱做定性定量分析。

仪器特点

光子计数X射线探测器

面阵型光子计数半导体探测器  

高灵敏，可实现单光子计数  

动态范围大  

双阈值

抗强辐射长时照射，长寿命

大角度弧形探测器

同时获取-3°~150°2θ角度范围图像
2D成像，同时收集y角度信息
探测器至样品距离：150mm
多片探测器全角度无缝覆盖

固定测角仪系统  

同时获取-3°~150°2θ角度范围图像  

2D成像，同时收集y角度信息

支持多种数据采集模式
固定照相模式获取2D衍射帧
快扫模式获取1D衍射谱

型号参数