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ANASYS AFM-IR原子力红外联用系统nano IR2

美国 ANASYS 仪器公司是一家富有创造力的分析仪器制造商,致力于设计突破性的领先产品,曾荣获 2010年度美国 R&D100 大奖。nanoIR 系统为该公司推出的拥有全球领先AFM-IR 技术的系列产品,使得研究人员能够同时获得清晰的AFM 图像以及精确的红外光谱,是一个前所未有的强大检测平台。这项实验室解决方案集成了纳米红外光谱和原子力显微镜的核心技术,使获得的红外光谱在空间分辨率上大大超越光学衍射极限,使分析样品化学组分的横向分辨率达到的了空前的 100nm 以下。

除了可以揭示化学组成,nanoIR系统还可以对试样的局部形貌,机械性能,热学性能进行高分辨率表征。该系统潜在的应用范围横跨聚合物科学,材料科学,生命科学以及对结构和性能关系深入研究的相关领域。

nanoIR2相比纳米多功能红外光谱系统一代的优势为:脉冲可调激光光束从样品上方激发,从而对测试样品的形貌与厚度的要求大大降低。而且它拥有先进的纳米共振加强红外光谱(REINS)技术,提高了探针针尖在垂直方向的灵敏度,这使得它成为厚度在20nm以下薄膜表征的利器。

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产品特点

  • 突破AFM-IR的衍射极限
    nanoIR系统拥有领先的AFM-IR技术,兼具了红外和原子力显微镜两项技术的优势,使分析样品化学组分的横向分辨率达到的了空前的100nm以下。无论你是要加快先进材料的研发速度还是要在纳米尺度下研究细胞和组织的化学组分,nanoIR总能提供你所需要的纳米级化学分析。

  • 丰富、便于识别的红外光谱信息
    NanoIR系统可以提供全面的中红外光谱信息供研究者使用。第二代红外光源的波数从3600到1200连续可调。该范围覆盖了几乎所有的中红外,可提供包括CH、NH和CO键以及羰基和酰胺基在内的大量基团信息。采用nanoIR系统与传统的红外光谱仪得到的高分子光谱信息具有非常好的一致性且很容易输出到第三方数据库(e.g., Bio-Rad’s KnowItAll®),从而快速分析样品,确认化学组成。

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  • 为高效获取结果而设计制造
    NanoIR集成了多项创新技术。它的诞生便是为了在一个便捷而可靠的实验平台上提供尖端的检测技术。
    Ø基于红外吸光度的AFM-IR红外光谱便于被识别和在数据库中检索
    Ø光谱采集时间小于1分钟
    Ø光学校准由电脑控制,信号可自动优化。
    Ø成熟的AFM技术,流水线式的操作
    Ø增加了样品光学观测和自动定位样品
    Ø来自业界领先的技术人员的高水平用户支持

  • 完整而强大的AFM
    NanoIR兼备了很多有力而高效的AFM技术。除了空前的纳米尺度的化学分析,AFM的成像模式如接触、 轻敲和耗散对比,在每台nanoIR上都是标准配置。其它可附加的设置包括纳米热分析(nanoTA),洛伦兹接触共振(LCR)和导电原子力显微术(CAFM)。

  • 全面的集成化系统
    nanoIR系统是全面集成了现有技术水平条件下的可调红外激光源。红外光束的调谐,聚焦和校准都是由nanoIR软件智能控制的。

nanoIR的应用领域
NanoIR系统能够被用于广泛的领域。这项技术非常适合于有机材料,包括但不仅限于多层聚合薄膜,聚合物共混物,生物样品和单粒子分析。

复合材料的界面分析

nanoIR2 measurements on a carbon fiber-epoxy composite revealing variations in chemical composition across the fiber/epoxy interface. This measurement was performed on a polished bulk sample.

碳纤维-环氧树脂复合材料的nanoIR2测量揭示了纤维/环氧树脂界面化学组分的多样性

半导体器件的化学分析

nanoIR2 measurements on layers in a semiconductor device. The analysis reveals variations in chemical composition not measurable by conventional IR microscopy.

半导体器件各层的nanoIR2测量。测试结果揭示了化学组分的多样性,传统的红外光谱无法进行这种测量

金属表面的纳米尺寸有机污染物分析

Organic Nanocontaminant

共振增强模式测试磁盘上的纳米级有机污染物的红外光谱。污染物颗粒的尺寸约为100nm×100nm×28nm


显微切片碳粉颗粒分析

Microtomed Toner Particle

 调色剂颗粒是一种复杂的多组分混合物,nanoIR2可以在纳米级分辨率下对这些组分进行鉴定。


矿物中碳氢化合物的分析

Hydrocarbons in Minerals

AFM形貌图(左图)和红外吸收图(右图),通过探测CH键的吸收确定碳氢化合物的分布。


高分子聚合物超薄薄膜分析

The resonance enhanced mode enables high quality measurements on very thin films. A 20 nm film on PMMA taken by the nanoIR2. 

 共振增强模式能够对非常薄的薄膜进行高质量的测量。上图为20nmPMMA薄膜的nanoIR2测量结果。

多功能原子力显微镜

Anasys产品家族的每一件产品都支持多种常用的原子力显微镜成像模式,包括轻敲,接触,力曲线、侧力、力耗散对比及 EFM, MFM, CAFM等。

图1轻巧模式下,获得的包覆在硅上的聚苯乙烯膜的表面形貌图;图2为2×4μm 扫描尺寸下的形貌和耗散图像;图3磁力显微镜图;图4聚合物纳米复合材料的轻敲相位图

技术参数

 

纳米红外光谱二代(nanoIR2)

共振增强纳米红外光谱二代(nanoIR2

激光可调范围

900~2000cm-12250~3600cm-1

1200~1800cm-1

红外光源线宽

平均4cm-1 

1cm-1 FWHM

最小样品厚度

>50nm

纳米机械性能成像

可以,通过接触共振模式

不可以

IR吸收成像

可以,

不可以

单层膜测量

不可以

可以

入射光模式

红外光从样品上方入射(nanoIR2)

测量技术

光热诱导共振技术(PTIR

检测量

红外光吸收

XY方向扫描范围

80x80um

Z方向扫描范围

>7um

空间分辨率

20~100nm

点光谱测量时间

1分钟

标准成像模式

接触模式轻敲模式力曲线模式力调制模式

可选成像模式

纳米热分析(nanoTA);洛伦兹接触共振(LCR);扫描热显微镜(SThM)

导电原子力模式(CAFM);其他模式可增加


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